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一款由脉冲信号发生器、闭合导通环路等组成的33CX201可控硅快速测试仪电路图

time : 2019-08-20 09:33       作者:凡亿pcb

 

以下为一款深圳凡亿PCB线路板公司提供的可控硅快速测试电路图。

 

主要由555组成。该测试仪由脉冲信号发生器、闭合导通环路、发光二极管、可控硅SCR等组成。插上可控硅SCR,当按下按钮AN后,在555输出高电平时,发光二极管LED1、电阻R4、可控硅SCR、晶体管BG2形成闭合回路,发光管LED1发光;当555输出低电平时,LED2R4SCRBG1形成闭合回路,发光管LED2发光,说明可控硅是好的。

 

在测试时插上可控硅SCR后,发光管LED1LED2应不亮,否则说明T1T2的两极已短接。多谐振荡器,其振荡频率为f=1。44/(R1+2R2)C。图示参数对应的振荡频率约为1Hz。由于R1<<R2,故电容C充电所对应的时间t=0。693(R1+R2)C,与电容C放电所对应的时间t=0。693R2C十分接近,所以脉冲发生器输出脉冲的占空比接近1:1

 

可控硅快速测试仪电路图

可控硅快速测试仪电路图